CZY-3型陶瓷砖平整度

时间:2017-04-24 11:11 作者:东正试验仪器 点击:
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CZY-3型陶瓷砖平整度详细参数

 CZY-3型陶瓷砖平整度

一、产品概述:
  CZY-3型陶瓷砖综合测定仪适用于测定各种墙面砖、地面砖尺寸及形状特性之仪器,其所测参数包括面砖的边直度、直角度、平整度(中心弯曲度、边弯曲度、翘曲度)等几项指标。本产品符合:GB/T3810.2-2006,idt ISO 10545-2-1995《陶瓷砖-尺寸和表面质量的检验》的要求。
二、适用范围:
  CZY-3型陶瓷砖综合测定仪 是用于测定各种墙面砖、地面砖尺寸及形状特性之仪器,其所测参数包括面砖的边直度、直角度、平整度等几项指标。1、测量精度:±0.1mm2、测量范围:60×60~600×600 ,60×60~800×800,60×60~1000×1000mm
三、陶瓷砖综合测定仪主要技术参数:
  1、测量精度:±0.1mm
  2、测量范围:60×60~600×600 ,60×60~800×800,60×60~1000×1000mm
  3、标准板客户选购(选购件)
  4、根据用户要求可选用数显表。
四、陶瓷砖综合测定仪原理及结构:
  仪器由支承平板、可移动的左支座和右支座组成一个直角坐标系。在平板上有三个等高支承销与陶瓷面砖类似外形和具有理想尺寸的标准板进行探测,并将仪表值调整至适当位置,并记下该示值。然后,以被测陶瓷面砖取代标准板,在不移动测量点的情况下,分别测出六项指标参数。左、右支座及中心测量支座可在平板上作平行移动,组成不同位置的空间座标,以适应不同规格尺寸陶瓷面砖的测定。
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